Alle Tags

  1. Metoree
  2. Beobachtungsgerät
  3. Infrarot-Mikroskope
  4. Mikroskop FT-IR LUMOS II (Bruker Japan Co., Ltd.)
Mikroskop FT-IR LUMOS II-LUMOS II
Mikroskop FT-IR LUMOS II-Bruker Japan Co., Ltd.

Mikroskop FT-IR LUMOS II
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Stunden

Relativ schnelle Antwort

Über dieses Produkt

LUMOS II ist ein eigenständiges FT-IR-Mikroskop, das sich hervorragend für Fehleranalyse, Materialforschung und Partikelanalyse eignet. Es ist kompakt, hochpräzise und verfügt über eine chemische Bildgebung mit Höchstgeschwindigkeit mithilfe der FPA-Technologie.

■Mikroskop FT-IR für jeden und überall

Wir glauben, dass es an der Zeit ist, dass fortschrittliche Technologie allen Benutzern zur Verfügung steht, unabhängig von ihrem analytischen Fähigkeitsniveau. FT-IR-Bildgebung und Mikroskopie Die Vorteile von FT-IR sind zu groß, um sie einzuschränken, da die Ausrüstung schwierig zu verwenden ist. Von Anfang an war LUMOS II darauf ausgelegt, die FT-IR-Bildgebung schneller, einfacher, genauer, zuverlässiger und noch angenehmer zu machen. Dies erforderte natürlich die Einbeziehung neuer Technologien und die Verbesserung bewährter Technologien.

■Hervorragende Leistung der Infrarotspektroskopie

Klares Sichtfeld, ultraschnelle Bildgebung

■Ideale Form eines Infrarotmikroskops

Größerer Probenraum mit hervorragender Bedienbarkeit, schnellerer chemischer Bildgebung und hervorragender spektraler Leistung in allen ATR-, Transmissions- und Reflexionsmodi. Dies wird als echtes mikroskopisches FT-IR bezeichnet.

■Spezifikationsmerkmale

・TE-MCT-Detektor standardmäßig ausgestattet ・Plug and Play: Kein flüssiger Stickstoff erforderlich, keine Trockenspülung erforderlich ・FPA-Detektor für die Bildgebung (optional) ・PermaSure+ einzigartige Kalibrierungstechnologie ・Vollautomatische Hardware ・Unterstützt Proben mit einer Höhe von bis zu 40 mm ・Langlebige Teile wie Laser ・Hochfeuchtigkeitsbeständiges ZnSe-Optiksystem ・All-in-One, platzsparendes Design ・Geringer Stromverbrauch

■Technische Merkmale

・Einfach zu bedienen mit softwaregesteuerter Messung ・Hochwertige spektrale und visuelle Daten ・Erreicht eine hohe spektrale Empfindlichkeit ohne Verwendung von flüssigem Stickstoff ・Beobachtungsbild mit Submikrometerauflösung ・Ultraschnelle FPA-Bildgebungsleistung ・ATR/Transmission/Reflexion, FPA-Bildgebung kompatibel mit allen Modi ・Leicht zugänglicher Probentisch ・Konform mit cGMP und 21CFR Teil11 ・Automatisierte OQ/PQ- und Pharmakopöe-Tests ・Unterstützt Funktionserweiterung

■Anwendung

・Fehleranalyse ・Partikel- und Oberflächenanalyse ・Industrie, Fertigungsindustrie ・Forensische Wissenschaft ・Biowissenschaften ・Polymer und Kunststoff ・Umweltwissenschaften ・Arzneimittel

  • Produkt

    Mikroskop FT-IR LUMOS II

Teilen Sie dieses Produkt


140+ Personen sehen

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

1 Modelle von Mikroskop FT-IR LUMOS II

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
Mikroskop FT-IR LUMOS II-Part Number-LUMOS II

LUMOS II

Auf Anfrage erhältlich

Kunden, die dieses Produkt angesehen haben, haben auch angesehen

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Konfokales Infrarot-Laser-Scanning-Mikroskop IRLC-Optoscience Co., Ltd.

Konfokales Infrarot-Laser-Scanning-Mikroskop IRLC

Optoscience Co., Ltd.

180+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 44.82 Stunden

Infrarot-Mikroskope

3 Modelle aufgelistet

IR-Mikroskop Nicolet™ iN™5 Mikroskop FT-IR-Thermo Fisher Scientific Co., Ltd.

IR-Mikroskop Nicolet™ iN™5 Mikroskop FT-IR

Thermo Fisher Scientific Co., Ltd.

60+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 33.50 Stunden

Infrarot-Mikroskope
Mehr Produkte von Infrarot-Mikroskope anzeigen

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

510+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 10 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

360+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

250+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 10 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

400+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

320+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 8 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

390+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 30 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

480+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

330+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

4 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

380+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 20 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

310+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop für große Proben NPFLEX-1000-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop für große Proben NPFLEX-1000

Bruker Japan Co., Ltd.

280+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 32 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

Wafer-Trockenreinigungsgerät WaferClean 2200-Bruker Japan Co., Ltd.

Wafer-Trockenreinigungsgerät WaferClean 2200

Bruker Japan Co., Ltd.

330+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Halbleiter-Reinigungsgeräte

Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Std.

Verwandte Suchbegriffe

Infrarot-Mikroskope
Bruker Japan Co., Ltd.

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree