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Wärmebildgerät TSI-TSI-2
Wärmebildgerät TSI-Bethel Co., Ltd.

Wärmebildgerät TSI
Bethel Co., Ltd.

Antwortstatus von Bethel Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

196.4Stunden


Über dieses Produkt

■Lunker und Risse mit Hitze sichtbar machen

Die Verbesserung der Energieeffizienz ist ein wichtiges Thema zur Energieeinsparung. Dieses Gerät konzentriert sich auf das Problem des Stromverbrauchs in elektronischen Geräten und ermöglicht die Bewertung der thermischen Diffusionsfähigkeit von Grenzflächen, indem die thermischen Eigenschaften im Inneren des Geräts visualisiert und in relative numerische Werte umgewandelt werden. Diamant und DLC ziehen aufgrund ihrer hohen Wärmeleitfähigkeit zur Energieeinsparung ebenfalls Aufmerksamkeit auf sich, es ist jedoch äußerst wichtig, ihre Wärmeleitfähigkeit zu bewerten, die das Entweichen von Wärme aus ihren Grenzflächen ermöglicht. Darüber hinaus wird gesagt, dass die Haftung der Grenzfläche zwischen diesen Materialien die Leistung beeinflusst. Ziel dieses Geräts war es, die Haftung der Grenzfläche mithilfe von Wärme zu bewerten.

■Funktionen

・Laserheizfunktion ・Optisches System für Makrofotografie (Auflösung ca. 20 μm) ・Hochleistungs-Infrarotkamera (7,5 μm bis 13,5 μm) ・Original-Rauschunterdrückungstechnologie

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    Wärmebildgerät TSI

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1 Modelle von Wärmebildgerät TSI

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern) Referenzbeispiel für Nutzungsbedingungen Nutzungsbedingungen Messziel Nutzungsbedingungen Oberflächenbehandlung Nutzungsbedingungen Probengröße Nutzungsbedingungen Beispiel für eine äußere Form Bewegungsbereich des Tisches Horizontale Richtung (XY-Achse). Lasersicherheitsstandards Weiteres Zubehör Nutzungsumgebungstemperatur Nutzungsumgebung Luftfeuchtigkeit Temperatur der Lagerumgebung Luftfeuchtigkeit der Lagerumgebung Halbleiterlaser (kontinuierliche Welle) maximale Leistung Halbleiterlaser-Sinuswellenmodulation (kontinuierliche Welle). Wellenlänge eines Halbleiterlasers (kontinuierliche Welle). Grundlegende Leistungsdaten Grundlegendes Leistungsmessziel Grundlegender Leistungsanalysemodus Temperatur der Messumgebung Messfrequenz der Messumgebung Außenmaße des Gerätekörpers Gewicht der Ausrüstung Pixelgröße der Infrarotkamera Bildrate der Infrarotkamera Fähigkeit zur Infrarotkamera-Analyse Elementtyp der Infrarotkamera Anzahl der Elemente einer Infrarotkamera Wellenlängenband der Infrarotkamera-Beobachtung Stromversorgung
Wärmebildgerät TSI-Part Number-TSI-2

TSI-2

Auf Anfrage erhältlich

Unnötig

Feste Materialien (Harz, Glas, Keramik, Metall usw.)

Schwärzungsbehandlung (nicht erforderlich für kohlenstoffbasierte Materialien)

MAX100×100×30 (mm)

Kann amorph sein

±15 (mm)

KLASSE 1, IEC/EN 60825-1:2007

Temperaturmodulationsheizung, Steuerungs-/Analysesoftware, PC

20~30 (℃)

20~80 (%)

0~50 (℃)

20~80 (%)

5 (W)

0,1~30 (Hz)

808 (nm)

Frequenz, Entfernung, Amplitude, Phase, Helligkeit, Bilddaten

Probendefekte, Heterogenität, Infrarotstrahlung, einfache Temperatur, thermische Eigenschaften

Punkt-/Flächenanalyse, Phasenanalyse

RT~250 (℃)

0,1 ~ 250 (℃)

B552 × T602 × H657 (mm)

76,5 (kg)

17 (μm)

30 (Hz)

Ungefähr 30 (μm)

VOx-Mikrobolometer

336×256

7,5~13,5 (μm)

AC100-240 (V), 10-5 (A), 50/60 (Hz)

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