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Produkt
Wärmebildgerät TSIVerarbeitendes Unternehmen
Bethel Co., Ltd.Bild | Teilenummer | Preis (ohne Steuern) | Referenzbeispiel für Nutzungsbedingungen | Nutzungsbedingungen Messziel | Nutzungsbedingungen Oberflächenbehandlung | Nutzungsbedingungen Probengröße | Nutzungsbedingungen Beispiel für eine äußere Form | Bewegungsbereich des Tisches Horizontale Richtung (XY-Achse). | Lasersicherheitsstandards | Weiteres Zubehör | Nutzungsumgebungstemperatur | Nutzungsumgebung Luftfeuchtigkeit | Temperatur der Lagerumgebung | Luftfeuchtigkeit der Lagerumgebung | Halbleiterlaser (kontinuierliche Welle) maximale Leistung | Halbleiterlaser-Sinuswellenmodulation (kontinuierliche Welle). | Wellenlänge eines Halbleiterlasers (kontinuierliche Welle). | Grundlegende Leistungsdaten | Grundlegendes Leistungsmessziel | Grundlegender Leistungsanalysemodus | Temperatur der Messumgebung | Messfrequenz der Messumgebung | Außenmaße des Gerätekörpers | Gewicht der Ausrüstung | Pixelgröße der Infrarotkamera | Bildrate der Infrarotkamera | Fähigkeit zur Infrarotkamera-Analyse | Elementtyp der Infrarotkamera | Anzahl der Elemente einer Infrarotkamera | Wellenlängenband der Infrarotkamera-Beobachtung | Stromversorgung |
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![]() |
TSI-2 |
Auf Anfrage erhältlich |
Unnötig |
Feste Materialien (Harz, Glas, Keramik, Metall usw.) |
Schwärzungsbehandlung (nicht erforderlich für kohlenstoffbasierte Materialien) |
MAX100×100×30 (mm) |
Kann amorph sein |
±15 (mm) |
KLASSE 1, IEC/EN 60825-1:2007 |
Temperaturmodulationsheizung, Steuerungs-/Analysesoftware, PC |
20~30 (℃) |
20~80 (%) |
0~50 (℃) |
20~80 (%) |
5 (W) |
0,1~30 (Hz) |
808 (nm) |
Frequenz, Entfernung, Amplitude, Phase, Helligkeit, Bilddaten |
Probendefekte, Heterogenität, Infrarotstrahlung, einfache Temperatur, thermische Eigenschaften |
Punkt-/Flächenanalyse, Phasenanalyse |
RT~250 (℃) |
0,1 ~ 250 (℃) |
B552 × T602 × H657 (mm) |
76,5 (kg) |
17 (μm) |
30 (Hz) |
Ungefähr 30 (μm) |
VOx-Mikrobolometer |
336×256 |
7,5~13,5 (μm) |
AC100-240 (V), 10-5 (A), 50/60 (Hz) |
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