Alle Tags

  1. Metoree
  2. Beobachtungsgerät
  3. Rastersondenmikroskope
  4. AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP (Bruker Japan Co., Ltd.)
AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP-InSight CAP
AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP-Bruker Japan Co., Ltd.

AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Stunden

Relativ schnelle Antwort

Über dieses Produkt

■AutoAFM (vollautomatischer Atomkraftprofiler)

Insight CAP ist ein vollautomatisches AFM für die CMP- und Ätzprozessbewertung. Zusätzlich zur Profilierungsfunktion bis zu 100 mm unterstützt es auch die für AFM einzigartige Rauheitsmessung und die genaue Tiefenmessung bei schmalen Linienbreiten von 65 nm oder weniger, was bei normalem AFM schwierig ist. Darüber hinaus ist es mit 100-mm-, 150-mm-, 200-mm- und 300-mm-Wafern kompatibel und verfügt über eine maximale Scangröße von 130 µm, einen 100 µm-Z-Richtungsscanner, Funktionen zum automatischen AFM-Sondenaustausch und zur Bewertung der Sondenspitzenform sowie Kommunikationsfunktionen mit dem Host, wodurch es vollständig mit der Produktionslinienautomatisierung kompatibel ist.

  • Produkt

    AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP

Teilen Sie dieses Produkt


220+ Personen sehen

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

1 Modelle von AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP-Part Number-InSight CAP

InSight CAP

Auf Anfrage erhältlich

Kunden, die dieses Produkt angesehen haben, haben auch angesehen

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

510+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

360+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

320+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Mess- und Analysegeräte Analysegeräte Rastersondenmikroskop Rasterkraftmikroskop (AFM/SPM)-Mysec Co., Ltd.

Mess- und Analysegeräte Analysegeräte Rastersondenmikroskop Rasterkraftmikroskop (AFM/SPM)

Mysec Co., Ltd.

140+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 15 Stunden

Antwortzeit: 17.90 Stunden

Rastersondenmikroskope

3 Modelle aufgelistet

300-mm-Wafer-kompatibles großes AutoAFM (automatisiertes Rasterkraftmikroskop) InSight AFP-Bruker Japan Co., Ltd.

300-mm-Wafer-kompatibles großes AutoAFM (automatisiertes Rasterkraftmikroskop) InSight AFP

Bruker Japan Co., Ltd.

290+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

3 Modelle aufgelistet

Fotomaske AutoAFM (vollautomatisches Rasterkraftmikroskop) InSight AFP PM-Bruker Japan Co., Ltd.

Fotomaske AutoAFM (vollautomatisches Rasterkraftmikroskop) InSight AFP PM

Bruker Japan Co., Ltd.

280+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

3 Modelle aufgelistet

Mehr Produkte von Rastersondenmikroskope anzeigen

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

510+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

360+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

250+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

400+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

320+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

400+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

480+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

340+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

4 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

380+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

310+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop für große Proben NPFLEX-1000-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop für große Proben NPFLEX-1000

Bruker Japan Co., Ltd.

280+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 7 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

Mikroskop FT-IR LUMOS II-Bruker Japan Co., Ltd.

Mikroskop FT-IR LUMOS II

Bruker Japan Co., Ltd.

140+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Infrarot-Mikroskope

2 Modelle aufgelistet


Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Std.

Verwandte Suchbegriffe

Rastersondenmikroskope
Bruker Japan Co., Ltd.

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree