Alle Tags

  1. Metoree
  2. Zähler und Messgerät
  3. Tribometer
  4. Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab (Bruker Japan Co., Ltd.)
Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-UMT TriboLab
Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Stunden

Relativ schnelle Antwort

Über dieses Produkt

■Multifunktionale Reibungsprüfmaschine

Die Universal Mechanical Tester (UMT)-Plattform von Bruker ist seit ihrer Einführung im Jahr 2000 das am weitesten verbreitete und vielseitigste Tribometer auf dem Markt. Das von Grund auf neu konzipierte UMT TriboLabTM behält seine Vielseitigkeit bei und basiert auf einem einzigartigen Modulkonzept. Dadurch können Sie mehr Funktionen als je zuvor nutzen, ohne Kompromisse bei der Leistung einzugehen.

■Funktionen

・Eine Plattform kann Tribologietests durchführen, die über 45 ASTM-Standards entsprechen. Kugel/Stift-auf-Scheibe, Schubtests (Ring/Scheibe-auf-Scheibe), hin- und hergehende Tests, Block-auf-Ring, Kratztests, Shell-Vier-Kugel-Tests, Korrosionsverschleißtests usw. - Kompatibel mit verschiedenen Anwendungen im Automobilbereich. JASO M348 und SAENo.2 Standard-Kupplungsmaterialbewertung, ASTMD6425 und andere Hochgeschwindigkeitsvibrationstests für Schmierstoffe (SRV-Test, JASO M358 Riementyp CVT-Öl-Metall-Metall-Reibungskoeffizienten-Charakteristiktest, SAEJ2522 (AKMaster) Bremsbelagtest usw. ・Mit 11 Arten von Reibungslastsensoren, die den Geräuschpegel auf 0,02 % des Skalenendwerts reduzieren, ist es möglich, Lasten von mindestens 1 mN bis maximal 2.000 N anzuwenden. ・Mit dem AE-Sensor ist es möglich, Materialzerstörung zu erkennen und mit dem ECR-Sensor den aktuellen Status während des Gleitens zu messen. ・Die modular aufgebaute Umgebungskontrollkammer ermöglicht Tests in verschiedenen Umgebungen. Umgebungskontrolle wie Heizkammer (150 ℃, 400 ℃, 1000 ℃), Kühlkammer (-30 ℃), Feuchtigkeitskontrolle (5 bis 85 % RH), Vakuum, beliebige Gasatmosphäre usw.

  • Produkt

    Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Teilen Sie dieses Produkt


310+ Personen sehen

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

1 Modelle von Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Part Number-UMT TriboLab

UMT TriboLab

Auf Anfrage erhältlich

Kunden, die dieses Produkt angesehen haben, haben auch angesehen

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Bewertungstestausrüstung Tragbares Reibungsmessgerät (Muse) 94i-Ⅱ-Yagyu Shokai Co., Ltd.

Bewertungstestausrüstung Tragbares Reibungsmessgerät (Muse) 94i-Ⅱ

Yagyu Shokai Co., Ltd.

5.0

140+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 40 Minuten

Antwortzeit: 3.96 Stunden

Tribometer

2 Modelle aufgelistet

Bremsmaterial-Reibungs- und Verschleißtester TriboLab HD-Bruker Japan Co., Ltd.

Bremsmaterial-Reibungs- und Verschleißtester TriboLab HD

Bruker Japan Co., Ltd.

260+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 9 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Tribometer

2 Modelle aufgelistet

Mehr Produkte von Tribometer anzeigen

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

510+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 14 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

360+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

250+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 14 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

400+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

320+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 11 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

390+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

480+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 26.94 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

340+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Sekunde

Antwortzeit: 26.94 Stunden

4 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

380+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Sekunde

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten

Bruker Japan Co., Ltd.

290+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

Mikroskop FT-IR LUMOS II-Bruker Japan Co., Ltd.

Mikroskop FT-IR LUMOS II

Bruker Japan Co., Ltd.

140+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Infrarot-Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM-Bruker Japan Co., Ltd.

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM

Bruker Japan Co., Ltd.

420+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet


Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Std.

Verwandte Suchbegriffe

Tribometer
Bruker Japan Co., Ltd.

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree