Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 89 SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 85E SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 95 TEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 80 SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter
Bruker Japan Co., Ltd.

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Über dieses Produkt

■Elektronenmikroskop-EinbausystemDas in ein Elektronenmikroskop eingebaute Nanoindentersystem (Picoindenter) von Bruker kann in ein REM oder TEM integriert werden, um eine quantitative nanomechanische Charakterisierung von Nanoindentern usw. durchzuführen und die nanomechanischen Phänomene, die tatsächlich während der Bewertung auftreten (Bruch, Abblätterung, Gleiten von Kristallebenen usw.), vor Ort zu beobachten.

Durch die Aufzeichnung von SEM/TEM-Beobachtungsergebnissen in Bildern und Videos und deren Echtzeitvergleich mit den Last-Verschiebungs-Kurven aus der Bewertung nanomechanischer Eigenschaften können wir tiefere Einblicke und Kenntnisse über nanomechanische Phänomene erwarten. Die Pico-Denter von Bruker sind so konzipiert, dass sie mit den REMs und TEMs vieler Hersteller kompatibel sind. Wir bereiten den notwendigen Durchsatz für den Anschluss an Ihr REM oder TEM vor und richten es für den einfachen Anschluss ein.

Systemfunktionen
■Verschiedene Tests einschließlich Nanoindentation sind im REM/TEM möglichWählen Sie aus einer Vielzahl von Messmethoden und -modi, um grundlegende mechanische Eigenschaften, Spannungs-Dehnungs-Verhalten, Steifigkeit, Bruchzähigkeit und Verformungsmechanismen an einer Vielzahl von Proben zu bewerten. Hierzu zählen insbesondere Nanoindentation, Nanoscratch, NanoDMA, Kompressionstest und Biegetest. Ausgestattet mit einem Push-to-Pull (PTP)-Gerät ist es möglich, Zugversuche an Nanodrähten etc. durchzuführen und gleichzeitig Änderungen der elektrischen Eigenschaften zu messen.

■Kann nahtlos mit verschiedenen Analysemethoden im REM/TEM wie EBSD ausgewertet werdenMit dem patentierten Probentisch von Bruker ist es möglich, nahtlose Auswertungen wie die Messung der Härte, des Elastizitätsmoduls usw. mit einem Pico-Denter und die anschließende Beobachtung der Kristallorientierung mit EBSD durchzuführen. Durch die Kombination mehrerer Analysemethoden können tiefe Erkenntnisse gewonnen werden.

■Japans einziger Neigungs-Rotationstisch, der eine nahtlose Auswertung ermöglichtBruker bietet Kipp-Rotationstische an, die neigungskorrigiert und gedreht werden können. Bei dieser Stufe handelt es sich um eine von Bruker in Japan patentierte Technologie, die die nahtlose Durchführung von Methoden wie EBSD und FIB in der REM-Kammer ermöglicht.

■Heiz-/Kühlmechanismus von maximal 1.000 °C und minimal -130 °CDiese Funktion ist ideal für die Charakterisierung von Materialien in extremen Umgebungen. Sie können das Verhalten der Materialverformung beim Erhitzen und Abkühlen direkt beobachten.

Modell
Es gibt 4 Modelle für dieses Produkt.

Produkt
Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Verarbeitendes Unternehmen
Bruker Japan Co., Ltd.

Kategorien

Beobachtungsgerät

Transmissionselektronenmikroskope

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Bild	Teilenummer	Preis (ohne Steuern)
	PI 89 SEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
	PI 85E SEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
	PI 95 TEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
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