Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 89 SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 85E SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 95 TEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-PI 80 SEM PicoIndenter

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Stunden

Unternehmensbewertung

5.0

Über dieses Produkt

■Elektronenmikroskop-EinbausystemDas in ein Elektronenmikroskop eingebaute Nanoindentersystem (Picoindenter) von Bruker kann in ein REM oder TEM integriert werden, um eine quantitative nanomechanische Charakterisierung von Nanoindentern usw. durchzuführen und die nanomechanischen Phänomene, die tatsächlich während der Bewertung auftreten (Bruch, Abblätterung, Gleiten von Kristallebenen usw.), vor Ort zu beobachten.

Durch die Aufzeichnung von SEM/TEM-Beobachtungsergebnissen in Bildern und Videos und deren Echtzeitvergleich mit den Last-Verschiebungs-Kurven aus der Bewertung nanomechanischer Eigenschaften können wir tiefere Einblicke und Kenntnisse über nanomechanische Phänomene erwarten. Die Pico-Denter von Bruker sind so konzipiert, dass sie mit den REMs und TEMs vieler Hersteller kompatibel sind. Wir bereiten den notwendigen Durchsatz für den Anschluss an Ihr REM oder TEM vor und richten es für den einfachen Anschluss ein.

Systemfunktionen
■Verschiedene Tests einschließlich Nanoindentation sind im REM/TEM möglichWählen Sie aus einer Vielzahl von Messmethoden und -modi, um grundlegende mechanische Eigenschaften, Spannungs-Dehnungs-Verhalten, Steifigkeit, Bruchzähigkeit und Verformungsmechanismen an einer Vielzahl von Proben zu bewerten. Hierzu zählen insbesondere Nanoindentation, Nanoscratch, NanoDMA, Kompressionstest und Biegetest. Ausgestattet mit einem Push-to-Pull (PTP)-Gerät ist es möglich, Zugversuche an Nanodrähten etc. durchzuführen und gleichzeitig Änderungen der elektrischen Eigenschaften zu messen.

■Kann nahtlos mit verschiedenen Analysemethoden im REM/TEM wie EBSD ausgewertet werdenMit dem patentierten Probentisch von Bruker ist es möglich, nahtlose Auswertungen wie die Messung der Härte, des Elastizitätsmoduls usw. mit einem Pico-Denter und die anschließende Beobachtung der Kristallorientierung mit EBSD durchzuführen. Durch die Kombination mehrerer Analysemethoden können tiefe Erkenntnisse gewonnen werden.

■Japans einziger Neigungs-Rotationstisch, der eine nahtlose Auswertung ermöglichtBruker bietet Kipp-Rotationstische an, die neigungskorrigiert und gedreht werden können. Bei dieser Stufe handelt es sich um eine von Bruker in Japan patentierte Technologie, die die nahtlose Durchführung von Methoden wie EBSD und FIB in der REM-Kammer ermöglicht.

■Heiz-/Kühlmechanismus von maximal 1.000 °C und minimal -130 °CDiese Funktion ist ideal für die Charakterisierung von Materialien in extremen Umgebungen. Sie können das Verhalten der Materialverformung beim Erhitzen und Abkühlen direkt beobachten.

Modell
Es gibt 4 Modelle für dieses Produkt.

Produkt
Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Verarbeitendes Unternehmen
Bruker Japan Co., Ltd.

Kategorien

Beobachtungsgerät

Transmissionselektronenmikroskope

580+ Personen sehen

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

4 Modelle von Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Bild	Teilenummer	Preis (ohne Steuern)
	PI 89 SEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
	PI 85E SEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
	PI 95 TEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich
	PI 80 SEM PicoIndenter	Auf Anfrage erhältlich

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

710+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 17 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

550+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

370+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

14 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

570+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 15 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

630+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

470+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 40.71 Stunden

3 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

450+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 16 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Std.

Unternehmensbewertung

5.0

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Über dieses Produkt

■Elektronenmikroskop-Einbausystem

■Verschiedene Tests einschließlich Nanoindentation sind im REM/TEM möglich

■Kann nahtlos mit verschiedenen Analysemethoden im REM/TEM wie EBSD ausgewertet werden

■Japans einziger Neigungs-Rotationstisch, der eine nahtlose Auswertung ermöglicht

■Heiz-/Kühlmechanismus von maximal 1.000 °C und minimal -130 °C

4 Modelle von Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

PI 89 SEM PicoIndenter

PI 85E SEM PicoIndenter

PI 95 TEM PicoIndenter

PI 80 SEM PicoIndenter

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Verwandte Suchbegriffe

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter
Bruker Japan Co., Ltd.