Alle Tags

  1. Metoree
  2. AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde (Bruker Japan Co., Ltd.)
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-PR-EX-nIR2-10
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Stunden

Unternehmensbewertung

5.0

Über dieses Produkt

■Der einzige Sondenhersteller als Hersteller von AFM-Geräten

Bruker ist das einzige Unternehmen, das sowohl eine Reihe leistungsstarker AFM-Instrumente als auch eine breite Palette von Sonden herstellt. Wir bieten umfassende Lösungen durch die Entwicklung und Herstellung von Sonden, die zu Produkten und Anwendungen passen. Neben monokristallinem Silizium und Siliziumnitrid fertigen wir auch Hybridtypen und decken damit die meisten Anwendungen im AFM-Markt ab.

■AFM/SPM/NanoIR-Sonde Bruker AFM-Sonden

Wir bieten AFM/SPM/NanoIR-Sonden an, die eine Vielzahl von Anwendungen ermöglichen, wie z. B. Sonden, die verschiedene Formen von Mikrorauheit bis hin zu Grabenstrukturen messen, metallbeschichtete Sonden, die elektrische Eigenschaften messen, und Diamantsonden, die Härte messen.

  • Produkt

    AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Teilen Sie dieses Produkt


630+ Personen sehen

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

6 Modelle von AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-nIR2-10

PR-EX-nIR2-10

Auf Anfrage erhältlich
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-C450-10

PR-EX-C450-10

Auf Anfrage erhältlich
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-CSIN-10

PR-EX-CSIN-10

Auf Anfrage erhältlich
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-TNIR-A-10

PR-EX-TNIR-A-10

Auf Anfrage erhältlich
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-TNIR-C-10

PR-EX-TNIR-C-10

Auf Anfrage erhältlich
AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Part Number-PR-EX-SNM-A-10

PR-EX-SNM-A-10

Auf Anfrage erhältlich

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

710+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

550+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

370+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 20 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

14 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

570+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 16 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

470+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

3 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

580+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 20 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

450+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM-Bruker Japan Co., Ltd.

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 17 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet


Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Std.

Unternehmensbewertung

5.0

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree