Alle Tags

  1. Metoree
  2. Beobachtungsgerät
  3. Rasterkraftmikroskope
  4. Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem (Bruker Japan Co., Ltd.)
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-DimensionssymbolIR
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Anasys nanoIR3
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Stunden

Unternehmensbewertung

5.0

Über dieses Produkt

■AFM-Infrarotspektroskopiesystem Das lang erwartete nanoskalige Infrarotspektroskopiesystem der neuen Generation Dimension IconIR

Dimension Icon ist die meistverkaufte Maschine von AFM mit den meisten installierten Aufzeichnungen im In- und Ausland. Die einzigartige Bruker-Technologie PeakForce Tapping und die NanoIR-Technologie wurden endlich kombiniert. Neben etablierten mechanischen und elektrischen Eigenschaftstechnologien wird auch Infrarotspektroskopie im Nanobereich auf einem einzigen System realisiert.

■Topographie

・Spitzenkraft-Tapping ·Kontakt ・Tippen / SCHNELLES Tippen ・Kraftkurve/Kraftvolumen

■Infrarotspektroskopie

・Kontaktieren Sie AFM-IR ・Resonanzverstärktes AFM-IR ・Tippen auf AFM-IR ・Oberflächenempfindliches AFM-IR

■Thermische Analyse

・VITA/Nano-TA ・SThM ・TTM

■Bewertung mechanischer Eigenschaften

・Spitzenkraft QNM ・Phase, Reibung ・Kraftspektroskopie ・Force-Modulation ・Nano-Eindruck ・Lautstärke erzwingen ・Kontaktresonanz-Mapping ・AFM Nano-DMA ・Nanolithographie und Nanomanipulation ・Klingelmodus

■Bewertung der elektrischen Eigenschaften

・Liftmodus und Darklift ・EFM ・KPFM (AM & FM), Peakforce KPFM ・C-AFM und DCUBE-CAFM ・THUNFISCH & Peakforce THUNFISCH & DCUBE-THUNFISCH ・PFM & & DCUBE-PFM & DCUBE-CR-PFM & SS-PFM ・SCM und DCUBE-SCM ・SSRM und DCUBE-SSRM ・sMIM & Peakforce sMIM & DCUBE-SMIM ・MFM und Torsionsresonanz-MFM nanoIR und AFM, beides bewährte Technologien integriert in einem System

■Funktionen von IconIR

・Beste spektrale Leistung korreliert mit dem FTIR-Spektrum ・Chemische Bildgebung mit 10 nm räumlicher Auflösung ・Oberflächenempfindlichkeit, die sogar monomolekulare Filme erkennen kann

  • Produkt

    Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Teilen Sie dieses Produkt


570+ Personen sehen

Zuletzt angesehen: vor 16 Stunden

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

4 Modelle von Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Part Number-DimensionssymbolIR

DimensionssymbolIR

Auf Anfrage erhältlich
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Part Number-Anasys nanoIR3

Anasys nanoIR3

Auf Anfrage erhältlich
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Part Number-Anasys nanoIR3-s

Anasys nanoIR3-s

Auf Anfrage erhältlich
Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Part Number-Anasys nanoIR3-s Breitband

Anasys nanoIR3-s Breitband

Auf Anfrage erhältlich

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Kunden, die dieses Produkt angesehen haben, haben auch angesehen

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

710+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

550+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 27 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

14 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

6 Modelle aufgelistet

300-mm-Wafer-kompatibles großes AutoAFM (automatisiertes Rasterkraftmikroskop) InSight AFP-Bruker Japan Co., Ltd.

300-mm-Wafer-kompatibles großes AutoAFM (automatisiertes Rasterkraftmikroskop) InSight AFP

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

3 Modelle aufgelistet

AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP-Bruker Japan Co., Ltd.

AutoAFM (Automatic Atomic Force Profiler) InSight CAP

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

350+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 19 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

2 Modelle aufgelistet

Fotomaske AutoAFM (vollautomatisches Rasterkraftmikroskop) InSight AFP PM-Bruker Japan Co., Ltd.

Fotomaske AutoAFM (vollautomatisches Rasterkraftmikroskop) InSight AFP PM

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

430+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 22 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

3 Modelle aufgelistet

Mess- und Analysegeräte Analysegeräte Rastersondenmikroskop Rasterkraftmikroskop (AFM/SPM)-Mysec Co., Ltd.

Mess- und Analysegeräte Analysegeräte Rastersondenmikroskop Rasterkraftmikroskop (AFM/SPM)

Mysec Co., Ltd.

4.5

220+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 19 Stunden

Antwortzeit: 16.77 Stunden

Rasterkraftmikroskope

3 Modelle aufgelistet

Mehr Produkte von Rasterkraftmikroskope anzeigen

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

710+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 18 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

550+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

370+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

2 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 27 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rasterkraftmikroskope

14 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

630+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 6 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

470+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 10 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

3 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

580+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 27 Minuten

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

460+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

450+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM-Bruker Japan Co., Ltd.

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM

Bruker Japan Co., Ltd.

5.0

590+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 17 Stunden

Antwortzeit: 40.71 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet


Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

40.7Std.

Unternehmensbewertung

5.0

Verwandte Suchbegriffe

Rasterkraftmikroskope
Bruker Japan Co., Ltd.

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree