Alle Tags

  1. Metoree
  2. Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM). (Bruker Japan Co., Ltd.)
Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Kühl-/Heizstufe
Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Umgebungskontroll-Handschuhfach Atmosphärisches, nicht exponiertes AFM
Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).
Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortstatus von Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Stunden

Relativ schnelle Antwort

Über dieses Produkt

Dies ist ein optionaler Artikel für das Rasterkraftmikroskop (Material AFM).

  • Produkt

    Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Teilen Sie dieses Produkt


250+ Personen sehen

Zuletzt angesehen: vor 14 Stunden

Kostenlos
Beginnen Sie mit unserem kostenlosen Angebotsservice - keine Kosten, keine Verpflichtung.

Kein Telefon erforderlich
Wir respektieren Ihre Privatsphäre. Sie können Angebote erhalten, ohne Ihre Telefonnummer anzugeben.

2 Modelle von Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Part Number-Kühl-/Heizstufe

Kühl-/Heizstufe

Auf Anfrage erhältlich
Optionen für Rasterkraftmikroskope (Material-AFM).-Part Number-Umgebungskontroll-Handschuhfach Atmosphärisches, nicht exponiertes AFM

Umgebungskontroll-Handschuhfach Atmosphärisches, nicht exponiertes AFM

Auf Anfrage erhältlich

Klicken Sie auf die Teilenummer, um weitere Informationen zu jedem Produkt zu erhalten

Weitere Produkte von Bruker Japan Co., Ltd.

Die hier gezeigten Bewertungen sind Unternehmensbewertungen.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

Bruker Japan Co., Ltd.

510+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 14 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Formmessmaschinen

32 Modelle aufgelistet

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).-Bruker Japan Co., Ltd.

Kleine Plattform des Rasterkraftmikroskops (Material AFM).

Bruker Japan Co., Ltd.

360+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

9 Modelle aufgelistet

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie-Bruker Japan Co., Ltd.

Bio AFM (Atomic Force Microscope) Automatisierte Kraftspektroskopie

Bruker Japan Co., Ltd.

400+ Personen sehen dies

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).-Bruker Japan Co., Ltd.

Optische Bio-AFM-Pinzette (Rasterkraftmikroskop).

Bruker Japan Co., Ltd.

320+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 11 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rastersondenmikroskope

6 Modelle aufgelistet

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem-Bruker Japan Co., Ltd.

Nanoskaliges Infrarotspektroskopiesystem

Bruker Japan Co., Ltd.

390+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Rasterkraftmikroskope

12 Modelle aufgelistet

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde-Bruker Japan Co., Ltd.

AFM-/SPM-/NanoIR-Sonde

Bruker Japan Co., Ltd.

480+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

6 Modelle aufgelistet

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

System zur Bewertung nanomechanischer Eigenschaften. Plattformartiger Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

340+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

4 Modelle aufgelistet

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter-Bruker Japan Co., Ltd.

Im Elektronenmikroskop integriertes Nanoindentersystem SEM/TEM-In-situ-Nanoindenter

Bruker Japan Co., Ltd.

380+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Transmissionselektronenmikroskope

4 Modelle aufgelistet

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab-Bruker Japan Co., Ltd.

Multifunktionaler Reibungs- und Verschleißtester UMT TriboLab

Bruker Japan Co., Ltd.

310+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 2 Minuten

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Tribometer

3 Modelle aufgelistet

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten-Bruker Japan Co., Ltd.

Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour SP, kompatibel mit großen Substraten

Bruker Japan Co., Ltd.

290+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 3 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

Mikroskop FT-IR LUMOS II-Bruker Japan Co., Ltd.

Mikroskop FT-IR LUMOS II

Bruker Japan Co., Ltd.

140+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 1 Stunde

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Infrarot-Mikroskope

2 Modelle aufgelistet

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM-Bruker Japan Co., Ltd.

300 mm kompatibles vollautomatisches Weißlicht-Interferenzmikroskop Contour GTX-ARM

Bruker Japan Co., Ltd.

420+ Personen sehen dies

Zuletzt angesehen: vor 4 Stunden

Antwortzeit: 26.94 Stunden

Mikroskope

2 Modelle aufgelistet


Mehr Produkte von Bruker Japan Co., Ltd. anzeigen

Über das Unternehmen, das dieses Produkt anbietet

Bruker Japan Co., Ltd.

Antwortquote

100.0%

Antwortzeit

26.9Std.

Diese Version richtet sich an Deutschsprachige in Deutschland. Wenn Sie in einem anderen Land wohnen, wählen Sie bitte die entsprechende Version von Metoree für Ihr Land im Dropdown-Menü.

© 2025 Metoree