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Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Bruker Japan Co., Ltd.

Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie
Bruker Japan Co., Ltd.

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Über dieses Produkt

■Maßreihe

Das Rasterkraftmikroskopiesystem (AFM) Dimension Icon® von Bruker bietet höchste Leistung, Funktionalität und Produktivität für Nanoforscher in Wissenschaft, Technologie und Industrie. Das neueste Dimension-System basiert auf der weltweit am häufigsten verwendeten AFM-Plattform für große Proben und ist ein branchenführendes System, das auf jahrzehntelanger Innovation und Kundenfeedback basiert. Das System ist auf eine innovative geringe Drift und ein geringes Rauschen ausgelegt, sodass Benutzer innerhalb von Minuten statt Stunden artefaktfreie Bilder erhalten können. Dimension Icon ist mit der exklusiven ScanAsyst®-Technologie zur automatischen Bildoptimierung ausgestattet, die unabhängig von Ihrem Kenntnisstand einfachere, schnellere und konsistentere Ergebnisse liefert. Es war noch nie einfacher, das höchste Niveau der AFM-Forschung bei hoher Produktivität zu erreichen. Scanner (Chip-Scan-Verfahren)

■Icon-Scankopf (5. Generation)

・Das einzigartige Closed-Loop-Sensordesign erreicht ein mit Open-Loop-Sensoren vergleichbares geringes Rauschen, was mit AFM für große Proben/Chip-Scan nicht möglich war. - Das deutlich reduzierte Grundrauschen ermöglicht die Bildgebung auf atomarer Ebene im Kontaktmodus und unter 30 Uhr im Tapping-Modus. ・Hochauflösende Kamera und X-Y-Positionierung ermöglichen eine schnellere und effizientere Probennavigation - Kompatibel mit verschiedenen neuesten optionalen Modulen wie der Bewertung mechanischer Eigenschaften, der Bewertung elektrischer Eigenschaften und dem elektrochemischen Rastermikroskop, wodurch die Forschungsmöglichkeiten erweitert werden.

■FastScan-Kopf

・Durch die maximale Unterdrückung der Drift des Closed-Loop-Scanners haben wir ein geringes vertikales Rauschen von weniger als 40 PM erreicht. - Sie können Hochgeschwindigkeits-Vermessungsbilder mit 125 Hz oder höher, Tapping-Modus 20 Hz und PeakForceTapping Hz erhalten, um Hochgeschwindigkeitsbilder in hoher Qualität zu erhalten. -Ausgestattet mit automatischer Laserausrichtungsfunktion, um die Bedienung zu erleichtern.

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    Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie

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Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern)
Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Part Number-Dimension XR Nano-Mechanik

Dimension XR Nano-Mechanik

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Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Part Number-Dimension XR NanoElectrical

Dimension XR NanoElectrical

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Dimension Pro

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Rasterkraftmikroskop (Material AFM) große Plattform Dimension-Serie-Part Number-Dimension FastScan

Dimension FastScan

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