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Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware-Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware
Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware-Kokyo Co., Ltd.

Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware
Kokyo Co., Ltd.

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Über dieses Produkt

■Beam Profiler mit M2-Plattformsoftware

LaseView ist eine hochfunktionale und vielseitige Laserstrahl-Profiler-Software, mit der Sie eine handelsübliche CCD-Kamera als Strahlprofiler verwenden können. Durch die Verwendung handelsüblicher CCD-Kameras und CMOS-Kameras ist es möglich, auf einfache Weise ein äußerst kostengünstiges und praktisches Strahlmesssystem aufzubauen.

■Eigenschaften

・Einfache Messung von Strahlprofil und Strahldurchmesser möglich ・Es ist möglich, handelsübliche kostengünstige Kameras zu verwenden → es ist möglich, ein kostengünstiges Strahlüberwachungssystem aufzubauen. ・M2 (M Quadrat) Strahlqualitätsmessung möglich ・Der Strahlausbreitungswinkel (Divergenz) kann gemessen werden → Ausbreitungsverluste können gemessen werden ・Änderungen der Strahlausrichtung im Laufe der Zeit können gemessen werden → Die Strahlstabilität kann gemessen werden - Bilder können in festgelegten Zeitintervallen gespeichert werden (Bildprotokollierungsfunktion) ・Kostenlose Testversion verfügbar - Optionales Mikrostrahl-Messsystem für Messungen ab 2 μm verfügbar ・Option zur Strahlprofilmessung mit großem Durchmesser und hoher Leistung, die bis zu 200 mm messen kann ・Eine Software (Lizenz) für einen Computer (PC) ・Mehrere Kameras können mit einer Software verbunden werden

■LaseView-Nutzungsbeispiel

・Optisches Mikroskopsystem Sie können den Strahlprofiler als Mikroskop verwenden, indem Sie einen Objektivtubus an der CCD-Kamera anbringen. ・Optisches Fasermesssystem Gibt es Schäden? / Ist der Stecker schräg poliert / Ist die Intensitätsverteilung des Modenfeldes gaußförmig? ・Überwachungssystem

■Betriebsumgebung

・Windows 7, Windows 8, Windows 8.1, Windows 10, Windows 11 ・CPU-Geschwindigkeit: Intel Core i3 2 GHz oder gleichwertig oder höher eines anderen Unternehmens ・Freier Speicher: 512 MB oder mehr

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1 Modelle von Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern) Abstand zwischen zwei Punkten Spitzenintegral Linienprofil Maximales Projektionsprofil Integrales Profil
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Strahlprofiler mit M2-Plattformsoftware

Auf Anfrage erhältlich

Messen des Abstands zwischen zwei beliebigen Punkten auf dem Bildschirm

Analyse des Integralwerts innerhalb des Kreises und der Lichtintensität am Cursor unter Verwendung der Außenseite des Kreises als Hintergrund

Linienprofilanzeige am Fadenkreuz (mit Gauss-, Lorentz-, Sech-Funktionsanpassungs- und FWHM-Analysefunktionen)

Horizontale/vertikale orthographische Projektion (Maximalwert) Profilanzeige (mit Analysefunktionalität ähnlich dem Linienprofil)

Darstellung horizontal/vertikal gemittelter Profile (mit Analysefunktionen ähnlich Linienprofilen)

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