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Dummy-Wafer-Dummy-Wafer
Dummy-Wafer-Toyominato Co., Ltd.

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Über dieses Produkt

Dummy-Wafer werden auch Test-Wafer genannt und werden im Gegensatz zu Produkt-Wafern hauptsächlich für Geräteexperimente und Inspektionen verwendet. Es wird häufig für Betriebstests von Produktionsanlagen, Transporttests und mechanische Bewertungen (Schneiden, Schaben, Polieren usw.) verwendet.

■Eigenschaften des Dummy-Wafers

Da sie häufig für Experimente und Tests verwendet werden, gibt es sie in verschiedenen Größen und Stärken. Es können auch recycelte Wafer verwendet werden. Dummy-Wafer sind außerdem günstiger als partikelkontrollierte Silizium-Wafer-Produkte und können in kleinen Mengen versendet werden. In Fertigungsanlagen werden die ersten Dummy-Wafer zur Verbesserung der Prozessstabilität eingebracht und dienen der Optimierung und Überwachung des Fertigungsprozesses. Obwohl Dummy-Wafer nicht für die Geräteherstellung geeignet sind, eignen sie sich zur Überwachung und zum Testen und werden häufig anstelle neuer Wafer verwendet. Dummy-Wafer sind Wafer, die eine wichtige Rolle beim Testen und Justieren in allen Prozessen der Wafer-Herstellung spielen.

  • Produkt

    Dummy-Wafer

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1 Modelle von Dummy-Wafer

Bild Teilenummer Preis (ohne Steuern) Ausrichtung flach oder gekerbt Größe (inkl.) Typ Kerbe/Ausrichtung flache Richtung Partikel Bemerkungen Dicke (μm) Dickentoleranz (μm) Verpackungsform Spezifischer Widerstand (Ω・cm) Kristallorientierung Herstellungsmethode Oberflächenbeschaffenheit
Dummy-Wafer-Part Number-Dummy-Wafer

Dummy-Wafer

Auf Anfrage erhältlich

Ausrichtung flach, Kerbe oder Ausrichtung flach, Kerbe

2,3,4,5,6,8,12

P-Typ / N-Typ / Nicht spezifiziert

<100> / <111> / <211> / Keine Frage

Keine Fragen gestellt

Sowohl JEITA als auch SEMI sind mit flachen Standards mit 6-Zoll-Ausrichtung kompatibel.

280.380.525.625.625/675.725.775

20,25

Münzrollen-/Kassettenetui

0,005~ / Keine Frage

<100> / <111> / <110> / Keine Frage

CZ/FZ

Einseitiger Spiegel (MP/ET) / Doppelseitig geätzt (ET/ET)
Doppelseitiger Spiegel (MP/MP)

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