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Dieser Abschnitt bietet einen Überblick über Röntgendiffraktometer sowie ihre Anwendungen und Funktionsweisen. Werfen Sie auch einen Blick auf die Liste der 6 Hersteller von Röntgendiffraktometer und deren Firmenranking.
Inhaltsübersicht
Ein Röntgendiffraktometer ist ein Gerät, das die Beugungserscheinungen misst, die auftreten, wenn ein Material mit Röntgenstrahlen bestrahlt wird.
Durch die Analyse des aus der Messung gewonnenen Beugungsmusters können Informationen über die kristalline Struktur des Zielmaterials gewonnen werden.
Röntgendiffraktometer werden häufig zur Messung von Materialien mit kristallinen Eigenschaften eingesetzt, z. B. von Einkristallen, Pulvern und dünnen Schichten. Sie werden für die Forschung, Entwicklung und Analyse eines breiten Spektrums von Materialien eingesetzt, darunter organische Materialien, anorganische Materialien, Legierungen und Proteine.
Röntgendiffraktometer werden zur Messung der Beugungsphänomene eingesetzt, die bei der Bestrahlung einer Probe mit Röntgenstrahlen auftreten. Durch die Analyse der erhaltenen Beugungsmuster lassen sich die Kristallinität, die Orientierung und die Gitterdefekte der Probe beurteilen.
Da sich die Beugungsmuster für jede kristalline Struktur eines Materials unterscheiden, können sie auch zur Identifizierung und qualitativen Analyse unbekannter Proben verwendet werden, indem man sie mit den Beugungsmustern bekannter Materialien vergleicht. Röntgendiffraktometer eignen sich nicht zur Messung nicht-kristalliner Materialien wie amorpher (amorpher) Materialien, sie können aber zur Messung einer Vielzahl von Materialien verwendet werden. Sie können jedoch zur Messung einer Vielzahl von Materialien verwendet werden, einschließlich kristalliner Pulver, dünner Schichten und Legierungen.
Röntgenstrahlen, die auf ein Material eingestrahlt werden, werden an den Elektronen im Material gestreut. In Kristallen und anderen Materialien, in denen die Atome mit einer gewissen Regelmäßigkeit angeordnet sind. Interferieren die gestreuten Röntgenstrahlen miteinander, verstärken oder schwächen sich gegenseitig, und die Streuintensität nimmt nur in bestimmten Richtungen zu. Dies ist die Röntgenbeugung.
Bei der Röntgenbeugung ist bekannt, dass die Streuintensität der Röntgenstrahlen zunimmt, wenn die Bragg-Gleichung 2d sinθ = nλ (d: Gitterabstand θ: Bragg-Winkel n: ganze Zahl λ: Wellenlänge der eingestrahlten Röntgenstrahlen) gilt. Mit anderen Worten: Wenn die Wellenlänge λ feststeht, kann der Gitterebenenabstand d für verschiedene Beugungswinkel 2θ (Winkel zwischen einfallenden und gebeugten Röntgenstrahlen) bestimmt werden. Auf diese Weise gibt das gemessene Beugungsmuster Aufschluss über die atomare Anordnung des gemessenen Materials.
Die wichtigsten Röntgendiffraktometern sind Pulverröntgendiffraktometer, Einkristallröntgendiffraktometer und Dünnschichtröntgendiffraktometer. Diese werden nach der Art und Weise unterschieden, wie die Röntgenstrahlen eingestrahlt und detektiert werden.
Bei dieser Methode werden Röntgenstrahlen eingestrahlt, während der Kristall um eine bestimmte Achse gedreht wird, und das Beugungsmuster wird als zweidimensionales Bild gemessen. Durch Berechnung des erhaltenen zweidimensionalen Beugungsmusters mit einer speziellen Software kann ein dreidimensionales Modell der Kristallstruktur erstellt werden.
Hierbei handelt es sich um eine Messmethode, bei der der Einfallswinkel der einfallenden Röntgenstrahlen und die Position des Detektors usw. so verändert werden, dass die Beugungsintensität bei einem Beugungswinkel von 2θ als Daten erhalten werden kann. Sie wird hauptsächlich zur Identifizierung und qualitativen Analyse von Substanzen mit bekannten Beugungsmustern verwendet. Es ist die am häufigsten verwendete Messmethode, da sie eine geringe Probenmenge erfordert und die Probe leicht eingestellt werden kann.
Hierbei handelt es sich um eine Messmethode, bei der der Einfallswinkel der einstrahlenden Röntgenstrahlen so festgelegt wird, dass er nahezu parallel zur Substratoberfläche verläuft, und der Detektor bewegt wird. In-Plane-Messungen können auch durchgeführt werden, indem der Detektor in einer Richtung parallel zur Substratoberfläche bewegt wird. Diese Methode wird hauptsächlich zur Ermittlung der Kristallstruktur dünner Schichten und Grenzflächen sowie für qualitative Analysen verwendet, da der Einfluss des Substrats relativ gering ist und Informationen über oberflächennahe Bereiche gewonnen werden können.
Beide Verfahren haben unterschiedliche Eigenschaften und sollten je nach Verwendungszweck und der zu messenden Probe eingesetzt werden. Je nach Verwendungszweck kann es auch besser sein, ein ähnliches Messgerät, ein Röntgenstreuungsgerät, zu verwenden. Weitere Zusatzgeräte können verwendet werden, um die Art der Lichtquelle zu ändern und die Messumgebung, wie Temperatur und Druck, während der Messungen zu verändern.
*einschließlich Lieferanten etc.
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Rangliste in Deutschland
Ableitungsmethode| Rang | Unternehmen | Aktie lecken |
|---|---|---|
| 1 | Stresstech | 25% |
| 2 | Chmie.de | 25% |
| 3 | Rigaku Corporation and its Global Subsidiaries | 12.5% |
| 4 | Anton Paar GmbH | 12.5% |
| 5 | Bruker Japan Co., Ltd. | 12.5% |
| 6 | Malvern Panalytical Ltd | 12.5% |
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